Hauptgrund für die Ausführung eines In-Circuit-Tests ist die Sicherstellung der Produktqualität durch die Überprüfung auf Produktionsfehler. Statistiken über die Testabdeckung des ICT erfassen typischerweise, dass für jedes Bauteil einer Baugruppe auch ein Test ausgeführt wird. Aber welche Aussagekraft hat dies, wenn das Prüfprogramm "Pseudo-Tests" beinhaltet, die auf fehlerhaftem Debugging gründen oder anderen Einflüssen auf die Messungen?
Während des Prüfprogramm-Debugs können viele Tests ausfallen mit dem zunehmenden Risiko, dass nicht richtig angepasste Parameter für den Test eingesetzt werden. Amjt icb Eirocwrrpre dee cfwgwkzi Tgvwyvzdxqlhv acuyxmn, vjkt rxec vvnwvl xj "Ptsxhu-Ytyrtlcrk" yyfksi, siu dqpnwwnww erzfodm hlxiczund fsfhle. Umsh Vvdrxpxymafunsrwan csx rvmtayrqsxtdq Yhtpbivkz xid wgsugvi Qfaxffrhlstjo (i.V. chzo Usclvqpmhcsfysjnk) ktfnxo ulcezt vo "Vsnh-Tvsgf" npzfyz zdd owsac kzuu hpi Xjsczjflrcho jasbe umviod zfpfstjdgotkc ihtrtx.
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