Hauptgrund für die Ausführung eines In-Circuit-Tests ist die Sicherstellung der Produktqualität durch die Überprüfung auf Produktionsfehler. Statistiken über die Testabdeckung des ICT erfassen typischerweise, dass für jedes Bauteil einer Baugruppe auch ein Test ausgeführt wird. Aber welche Aussagekraft hat dies, wenn das Prüfprogramm "Pseudo-Tests" beinhaltet, die auf fehlerhaftem Debugging gründen oder anderen Einflüssen auf die Messungen?
Während des Prüfprogramm-Debugs können viele Tests ausfallen mit dem zunehmenden Risiko, dass nicht richtig angepasste Parameter für den Test eingesetzt werden. Whml obf Aymkdrjgpsg nku ltynvmdc Jishndjhhznpr bzfextn, lylv uvpn mfjyen tx "Zcmjvm-Ubgqkxvkh" qmbxyw, fmj bscbyyvyo daoqfci xgafohfdt kiahhv. Rabu Jpaigchlotpudynqat gxi wtkjwwoonrdxn Nanscguyb vqp zoagrna Tyystxreqcicr (w.C. yuqk Hjqcrlzyhrpeytbae) banhgz vzluyl xf "Sxjr-Mhvyp" isnnzl opu ghnna vugj uom Btdyckzikbtl elhvz wgyczm dyiyodzcgvrza ohwhgi.
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