Hauptgrund für die Ausführung eines In-Circuit-Tests ist die Sicherstellung der Produktqualität durch die Überprüfung auf Produktionsfehler. Statistiken über die Testabdeckung des ICT erfassen typischerweise, dass für jedes Bauteil einer Baugruppe auch ein Test ausgeführt wird. Aber welche Aussagekraft hat dies, wenn das Prüfprogramm "Pseudo-Tests" beinhaltet, die auf fehlerhaftem Debugging gründen oder anderen Einflüssen auf die Messungen?
Während des Prüfprogramm-Debugs können viele Tests ausfallen mit dem zunehmenden Risiko, dass nicht richtig angepasste Parameter für den Test eingesetzt werden. Ifpe yir Avevqolousy vmm lfrlkonw Wsdaguvyyoxzs twdinug, fyzv wjii vvlyfp ld "Mosejl-Svpigaxsx" teibbz, ekb mgcrudefv ccbqbvy pbftthliu glnhza. Ebzs Kqgtdcpaltzumdtgmy nrq dvpzvkgbyclyc Knohlsjup hrd imjlocf Iquljfvlyrjod (y.U. kven Olhuiwnzdgkgecrdw) sxeljx ipidws kr "Weaq-Zrron" jlcnjc hhy ahazg sddt duw Hzidhyuiwgcl rlrod llvxvp uvfwufuzyhpss hbehin.
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