In den Materialwissenschaften lassen sich Informationen über kristalline Orientierungen und dynamische Prozesse gewinnen.
Hochauflösende Raman-Spektroskopie erfordert zur Anregung Licht definierter Wellenlänge, die typischerweise von einem Laser bereitgestellt wird. Bei der Detektion der ineleastisch gestreuten Strahlung sind die Auflösung und die Streulichtunterdrückung des verwendeten Spektrographen entscheidende Parameter. Aus diesen Gründen werden bei konventionellen Systemen häufig scannende Spektrographen eingesetzt, die naturgemäß längere Messzeiten bedingen.
Laser 2000 stellt ein neues Raman-Messsystem vor, das die Nachteile konventioneller Systeme umgeht, deren Vorteile aber beibehält: Anstelle des scannenden Spektrographen wird ein Czerny-Turner-Monochromator mit feststehendem Gitter und Peltier-gekühltem Zeilendetektor (CCD) hoher Quanteneffizienz (95 %) eingesetzt, der eine minimale Messzeit von ca.15 ms (bei 16 Bit) erlaubt. Die nominelle spektrale Auflösung ist dabei 2 cm-1 (@ 785 nm), der erfasste Wellenlängenbereich geht von 150 cm-1 bis 3700 cm-1. Als Lichtquelle steht standardmäßig ein leistungsfähiger 350 mW-LD-Laser mit 61548; = 785 nm zur Verfügung (andere Wellenlängen auf Anfrage). Mit einer Vielzahl unterschiedlicher fasergekoppelter Sonden lassen sich alle denkbaren Anwendungen realisieren. Der USB-Anschluss des Gerätes erlaubt einen problemlosen Betrieb auch mit Laptop-PCs o.ä. Eine komfortabel zu bedienende Steuer- und Auswertesoftware sowie optional erhältliche Kalibrier-Sets runden diese Komplettlösung ab.