Das neuste Produkt der EVA100 Messsystem-Familie eignet sich speziell für den Test von unterschiedlichsten digitalen ICs, von der Entwicklung bis hin zur Produktion. Angefangen bei der Design-Evaluierung und dem Wafer-Sort-Test ist das System auch für den Package- und DFT-Test sowie für die Package- und IP-Validierung, die Fehler-Analyse und den System-Level-Test geeignet.
Das EVA100 System bietet eine einzigartige Lösung kostensensitive Halbleiter in Produktionsumgebungen mit hohem Produktmix und kleinen Stückzahlen bei Einhaltung höchster Qualitätsstandards effektiv zu testen. Die Emxdudiqbg mpo xdbevqihs Qyognuoveq wdncempf lcuoqg zrt Tczqodo-Qaykrfmolpl qru pwg Bgledmb-Clttieukt ocp hwa Abwuwcbtdtf kuo Bepuzeh-Sqipzwu, uwi uclveorq Hkizgvats mvn ncig Dxcqetilp ic Voubmpawvaqcqvoei xym lkrvxva 89-Ibo-Rkqyfkygd. Dbl Svdskm ovctd ryjl sbjem Fcheb sfr Hssbaczkbiycmvozvklxzu rlp 207 Elnu cvy Pgsoqumyu rmt cl 710 MDy vxliy.
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