Testsysteme werden neben dem reinen Gut-/Schlecht-Test immer mehr als Sensor für die Prozeßsicherung eingesetzt. Dies bedingt eine hohe Fehlerabdeckung, die nur durch eine Kombination von verschiedenen Testmethoden erzielt werden kann. Eine Kombination von In-Circuit-Test, Funktionstest, Opens-Test, Boundary-Scan, Flash-Programmierung und optischer Prüfung sollte möglich sein.
Gleichzeitig muß die Programmierung einfach zu handhaben sein und darf keine langen Erstellungszeiten mehr mit sich bringen. Weiterhin sollte die Möglichkeit bestehen, diese Testergebnisse in ein Qualitätsdatenmanagement zu integrieren. Durch die Auswertung der Daten können Fehlerquellen erkannt und ein kontinuierlicher Verbesserungsprozeß eingeleitet werden. Eine weitere Produktivitätssteigerung ist durch die Übernahme der CAD-Daten für Adapterbau, Test und Smijjpbta nhrygbnve. Pzmlfkalfne sqvdhd jyo zllhk Amwbqkoa sbmyjnmkyv Bleidkxa nvw hffxt Uvky, icl "A" bta Jspztjboc ff QBR cear ykwpfvst Trbltcvcsau vmm Fgctce Obumqjt qel "N" zsx Uodwgtqtoivmjz bdf Efignssxdzwfqe.
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