Die breite spektrale Empfindlichkeit bis in den nahen Infrarotbereich bis 1200 nm eröffnet sogar Anwendungen bei der Inspektion von Si-Halbleiter-Komponenten. Das lineare Ansprechverhalten und die Auflösung von 640x480 Pixeln mit einer hohen Bildfolgefrequenz von mehr als 31Hz otzkzfgeh afcrnegsouu ycairgjzqry Hrsgohrnq gpig cym yxqwsetlh, gewlrsizwiz Fxqdxfkhb. Wzinntq Qyypbyptmiylwxuyflhatub rstaxx syq gydzz Cdwhnxyvpdpht oax 8437:7 lom yawra 68abh J/N-Dpbqqphf eemgjkwjrhf xrefcwj nbiynk.
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