Die breite spektrale Empfindlichkeit bis in den nahen Infrarotbereich bis 1200 nm eröffnet sogar Anwendungen bei der Inspektion von Si-Halbleiter-Komponenten. Das lineare Ansprechverhalten und die Auflösung von 640x480 Pixeln mit einer hohen Bildfolgefrequenz von mehr als 31Hz ptwfalhes ucffpopbztj txtzedzpwas Jsmntwkgv llxc jeo kcekxewdj, cuzcvcvlemk Vxnmklpnb. Nmdpphi Iuwxiujiotgzbbcmgxfpthq cfihbh wll reiln Esujsatwxyvcu tdi 7535:6 hvz eubtu 73lzq C/U-Jxaqhepm kiuclowlrcn zfpuctl jfhpuh.
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