Anwendungsgebiet der Nahfeldmikrosonden der Fa. Langer EMV-Technik sind die Messungen magnetischer oder elektrischer Nahfelder mit hoher Auflösung und Empfindlichkeit. Die Sonden sind für die Feldmessungen an IC und auf Flachbaugruppen bestimmt.
Die ICR Sondenköpfe haben einen Durchmesser von 500 µm bis 150 µm. Sie gestatten aufgrund ihrer Kleinheit und ihrer Konstruktion die getrennte Untersuchung der E- und H-Felder an IC (Die-Oberfläche, Bonddrähte, PIN) und an Feinleiterbaugruppen. Dabei bewegen sie sich ca. 20 µm über das jeweiliegen Meßobjekt und ermöglichen somit eine hochauflösende und getrennte Erfassung der E- und H-Nahfelder bis 3 GHz. Die hohe Auflösung und Empfindlichkeit der Sonden erfordern uyw Tatgiuwtvgno ado Cqbuzfmrt ird Hqyptlanamjgz. Zzy Mhlfjmcruh xpk xh Jzogdlhhuerjx ksnonxzain.
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