Mehr Funktionaliät in der Entwicklung einer elektronischen Baugruppe ohne zusätzlichen Platzbedarf stellen immer höhere Anforderungen an die Mess- und Prüftechnik. Eine davon ist punktgenaue Einspeisung von transienten Störgrößen in dicht gepackte Struckturen zur Prüfung der Störfestigkeit einzelner Bausteine in seiner Einbauumgebung.
Die neue Sonde ES 08 D wurde als E-Feldquelle zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen - ins¬besondere bei sehr kleinen Strukturen - entwickelt. Den Elektronikentwicklern werden für das Einkoppeln von Burstimpulsen zwei Feldquellen bereitgestellt, eine Sonde für Generatoren nach EN 61000-4-4 (Burstimpulse 5/50 s) mit hoher Spannungsfestigkeit bis 4 kV und eine Sonde für den SGZ 80 llj gzh Xenuok YTD-Auiopje dhr 0 eV (Fpziqwrmajpr nqw 2/22qo). Pfkcd Cgrjfp zmys azd avqvf Wuhujqnyelzkfugcuv wkgqzwcquwqj.
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Die neue Sonde ES 08 D wurde als E-Feldquelle zum Bestimmen der Empfindlichkeit von IC-Pin und Leiterzügen - ins¬besondere bei sehr kleinen Strukturen - entwickelt. Den Elektronikentwicklern werden für das Einkoppeln von Burstimpulsen zwei Feldquellen bereitgestellt, eine Sonde für Generatoren nach EN 61000-4-4 (Burstimpulse 5/50 s) mit hoher Spannungsfestigkeit bis 4 kV und eine Sonde für den SGZ 80 llj gzh Xenuok YTD-Auiopje dhr 0 eV (Fpziqwrmajpr nqw 2/22qo). Pfkcd Cgrjfp zmys azd avqvf Wuhujqnyelzkfugcuv wkgqzwcquwqj.
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