Vom 5. bis 7. Juni 2018 präsentiert der Berliner Dienstleister TechnoLab auf Europas führender Veranstaltung für Systemintegration in der Mikroelektronik, der SMT in Nürnberg, Neuerungen und bewährte Analyseverfahren für das Aufspüren von Fehlerursachen an Leiterplatten, elektronischen Baugruppen, Komponenten und Materialien. Im Fokus stehen mikroskopische Untersuchungen, die anhand eines Mikroskops Typ Leica DM2700 vor Ort an Stand 160 in Halle 4 an Beispielen demonstriert werden. Zudem können sich Interessenten zu den Einsatzmöglichkeiten des FTIR-Spektrometers für die Materialidentifizierung und Fehleranalyse informieren.
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