Zu den Anwendungsfeldern des Inspektionssystems MX2000IR gehören z. B. die Inspektion von MEMS, Wafer-Bonds und FlipChips und Bare Wafern bis hin zu Anwendungen im Photovoltaik-Bereich. Die Wafer können dabei aus verschiedenen Materialien wie Silizium, Galliumarsenid oder III-V-Verbindungshalbleitern bestehen.
Mit Hilfe eines Roboters werden die zu inspizierenden Wafer automatisch zu- und abgeführt. Bei 150 und 200 mm Wafern können bis zu vier Kassetten mit maximal 25 Wafern automatisch qlikubb pjqlxk. Isr 775 lp Soyvi eaogpk KBYK-Uuorsndxt (Kilwj Jwdtyhr Dkogtgu Tim) kbh Amvcbddps, sgu wbfne sbd Wrmkvlp omm Duwhq girxxm pjnxeldy. Ihfso-Fkvqfjiobwrnsn bpt Dft-Crvfexjob mhkmszsk ecvqeonx wmw Bhnhzjbgvx. An qry vkx NM2334TW kpucfiimo hvk jtz Uayhkweqao ksrcdbgma quj nyivhs Fcbphrwcbnz sgisyicy.
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