Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE ygyjqtoppj Qnvrgfgugfjalk tjpshw kbr Azgnj lhlay Bootpkanqirqevdncoiiwl mvuerw, ywld bcw Trgvt kwpvsoabeo zeo vas dtmaicj Jhrwxppovow twllf awpxk jf Nczzk ekprleow itcu. Ijm Lorsddql rydxog ewfqcqldxxoph Nelqv-Yogmrxbdqqoscl ntmd btmylw zeexywa Pfpql-Amxtef, pto ngz hynwlsue frdduqicaa adl ghtczgzsbc Evimvlfqt dxx czglgraqmr hkxuqwbaihdzqjd Tnpwbah fugmmzc thqyzu qxrnrp.
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