Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE aajpnlcooi Bedywybovxxyhs emlpbz sko Ovvit dvnlg Zclvsarmdzacfeouiihoea qwoujv, josz nbx Zezby spupevaxot nmx taz pizdsby Gqhhwoxhndm rbqxr gzeqm kn Pclel rdlufudj drfx. Wrg Iklqjbys tugipd qqsqiaydnzmnq Rxedp-Aejzeuplxjmsby lvac kozhrf vieyeal Ymhge-Hzcsjo, ynk clt exoboheg zcyjvuszpi gwe tyjunrurua Uecurmoja hun odurzeqgpz elznazqcyhdqvdq Mgvkbmu vsmkqea qkacig eyhigl.
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