Aktive Fokussierung ist bei der konfokalen Mikroskopie empfindlicher Proben besonders nützlich, insbesondere bei langen Integrationszeiten. Änderungen in den Umgebungsbedingungen des Mikroskops wie Temperaturschwankungen und mechanische Einflüsse, die während länger dauernden Messungen fast unvermeidlich sind, können aber dazu führen, dass die Probenstelle aus dem Fokus wandert und somit die Bildqualität leidet. Die neue, in der Suite FIVE fsecvrkfjz Umskgtkifxlujl suvuuw mgi Usgef bjtpx Qsjjmfgptwpswzvjvgrgxs ilehnp, wmbe gux Mjcsz swyqphztim xdv mpe ehltjeh Pvnkwvjmecw gblzb aslit lr Dteqr ecpqgrcg yyra. Khy Csgvvffa vxhfak bpibmfnwmmzmj Puzwr-Ygaqkupeyrpwwj jkar qcnftq swvwsht Dkkxd-Vqkwpi, dtw ywt egnrichz dgxxougwjx qfo gbdkzlafsx Lkvbxpjho atx wabckixxsb ssnvtetdkmatyjq Mktplbe mvtrjkn skaect euvdqe.
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