HAMAMATSU PHOTONICS bringt neues Spektrometer OPAL-LuxeTM C16736-01mit beispiellosem Dynamikbereich von 2,5 Mio : 1 auf den Markt, für neue Anwendungen in der Plasmaphysik, Photolumineszenz, optischen Dichtemessung und Dünnschichtmetrologie.
Mithilfe einzigartiger Opto-Halbleiter-Designtechnologie sowie Softwaretechnologie konnte HAMAMATSU PHOTONICS ein neues Spektrometer mit einem extrem hohen Dynamikbereich von 2.500.000 : 1 im Spektralbereich von 200 nm – 900 nm entwickeln, das die gleichzeitige Messung von starken und schwachen Signalen ermöglicht. Dies ist etwa 100 Mal höher als bei herkömmlichen Spektrometern. Dadurch können Signale gemessen werden, die bisher nicht erkennbar waren.
Die Überarbeitung des optischen Systems im OPAL-LuxeTM ermöglicht die Verbesserung der spektralen Auflösung, ohne die Empfindlichkeit zu beeinträchtigen. Gleichzeitig wird durch die Unterdrückung der Erzeugung von Streulicht eine hohe Messgenauigkeit erreicht. Das OPAL-LuxeTM ermöglicht dadurch die gleichzeitige Analyse von verschiedenen Substanzen in einer Probe.
Die wichtigsten Merkmale des OPAL-LuxeTM Spektrometers C16736-01:
Mithilfe einzigartiger Opto-Halbleiter-Designtechnologie sowie Softwaretechnologie konnte HAMAMATSU PHOTONICS ein neues Spektrometer mit einem extrem hohen Dynamikbereich von 2.500.000 : 1 im Spektralbereich von 200 nm – 900 nm entwickeln, das die gleichzeitige Messung von starken und schwachen Signalen ermöglicht. Dies ist etwa 100 Mal höher als bei herkömmlichen Spektrometern. Dadurch können Signale gemessen werden, die bisher nicht erkennbar waren.
Die Überarbeitung des optischen Systems im OPAL-LuxeTM ermöglicht die Verbesserung der spektralen Auflösung, ohne die Empfindlichkeit zu beeinträchtigen. Gleichzeitig wird durch die Unterdrückung der Erzeugung von Streulicht eine hohe Messgenauigkeit erreicht. Das OPAL-LuxeTM ermöglicht dadurch die gleichzeitige Analyse von verschiedenen Substanzen in einer Probe.
Die wichtigsten Merkmale des OPAL-LuxeTM Spektrometers C16736-01:
- Extrem hoher Dynamikbereich
- Gleichzeitige Messung von starken und schwachen Signalen
- Einzigartige Opto-Halbleiter- und Softwaretechnologie
