Auf der diesjährigen Strategies in Light USA (SIL USA), welche vom 28. Februar bis 2. März 2017 in Anaheim, Kalifornien stattfindet, stellt Instrument Systems am Stand 401 erstmals sein neues Portfolio zur UV-Messung vor. Zu den Herausforderungen ultravioletter Strahlungsquellen gibt es zusätzlich einen Experten-Vortrag auf dem Exhibition Floor.
Die neue UV-Messlösung des Münchner Lichtmesstechnik-Herstellers besteht aus einem Spektralradiometer der bewährten CAS-Serie, sowie einer Serie von speziell für UV-Quellen ausgelegten Ulbricht-Kugeln. Dieses Komplettsystem eignet sich sowohl für Anwendungen im Labor, als auch für den Einsatz in Produktionsumgebungen. Prüflinge mit verschiedenen Strahlungsspektren ab 200 nm im Bereich UV-A, UV-B und UV-C können damit verlässlich und hochpräzise vermessen werden.
Ausführliche Informationen über die Herausforderungen und mögliche Applikationen zur Messung von UV-Quellen erteilt Produktmanager Dr. Tobias Roesener am Mittwoch, 1.3.2017 um 13 Uhr in seinem Vortrag im Exhibitor Presentation Theater.
Am Messestand von Instrument Systems können sich die Besucher außerdem über das Goniophotometer LGS 350 zur winkelabhängigen Vermessung mittelgroßer SSL-Produkte, sowie den Messplatz zur lichtmesstechnischen Charakterisierung von High-Power LEDs informieren. Die Vertriebsingenieure von Instrument Systems beraten gerne auch bezüglich individueller Messlösungen.
Als weiteres Highlight präsentiert Instrument Systems auf der SIL USA zum ersten Mal das neu veröffentlichte Werk „Handbook of LED and SSL Metrology", welches ab Ende Februar 2017 im Buchhandel erhältlich ist. Interessierte Besucher erhalten am Messestand des Münchner Unternehmens einen kostenlosen Auszug dieses Handbuches.
www.instrumentsystems.com
Die neue UV-Messlösung des Münchner Lichtmesstechnik-Herstellers besteht aus einem Spektralradiometer der bewährten CAS-Serie, sowie einer Serie von speziell für UV-Quellen ausgelegten Ulbricht-Kugeln. Dieses Komplettsystem eignet sich sowohl für Anwendungen im Labor, als auch für den Einsatz in Produktionsumgebungen. Prüflinge mit verschiedenen Strahlungsspektren ab 200 nm im Bereich UV-A, UV-B und UV-C können damit verlässlich und hochpräzise vermessen werden.
Ausführliche Informationen über die Herausforderungen und mögliche Applikationen zur Messung von UV-Quellen erteilt Produktmanager Dr. Tobias Roesener am Mittwoch, 1.3.2017 um 13 Uhr in seinem Vortrag im Exhibitor Presentation Theater.
Am Messestand von Instrument Systems können sich die Besucher außerdem über das Goniophotometer LGS 350 zur winkelabhängigen Vermessung mittelgroßer SSL-Produkte, sowie den Messplatz zur lichtmesstechnischen Charakterisierung von High-Power LEDs informieren. Die Vertriebsingenieure von Instrument Systems beraten gerne auch bezüglich individueller Messlösungen.
Als weiteres Highlight präsentiert Instrument Systems auf der SIL USA zum ersten Mal das neu veröffentlichte Werk „Handbook of LED and SSL Metrology", welches ab Ende Februar 2017 im Buchhandel erhältlich ist. Interessierte Besucher erhalten am Messestand des Münchner Unternehmens einen kostenlosen Auszug dieses Handbuches.
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