Die Instrument Systems GmbH, führender Hersteller von Systemen für die spektralradiometrische Lichtmesstechnik, stellt mit dem DTS140 NVIS die neueste Generation seiner weltweit bewährten schnellen CCD basierten Spektralradiometer zur Messung von Nachtsicht kompatiblen Displayelementen vor.
Das neue DTS140 NVIS erlaubt das Testen der Displays mit einem Turnkey-System, das sofort einsatzbereit ist und schnelle Messungen innerhalb von 30 Sekunden ermöglicht. Es überzeugt mit niedrigsten Gesamtkosten und einer Leistung, die dem Industriestandard SPECTRO 320 um nichts nachsteht. So kann mit dem DTS140 NVIS die NVIS-Strahldichte sogar bei 0.5fL gemessen werden. Da der Polarisationsfehler nur 0,4% beträgt lassen sich auch LCD-Displays präzise testen.
Das neue DTS140 NVIS von Instrument Systems übertrifft alle Anforderungen nach MIL-L-85762A / MIL-STD-3009. Die Messwerte korrelieren hervorragend mit traditionellen, scannenden Spektrometern sowohl für Anzeigenelemente mit LED- als auch für Glühlampenhinterleuchtung. Das Messobjekt lässt sich über die eingebaute CCD Kamera im Sucherokular sehr einfach positionieren und scharf einstellen. Dabei sichert die Pritchard Optik die perfekte Übereinstimmung von Sucherkamerabild und tatsächlichem Messfleck.
Die automatische Wahl von vier unterschiedlichen Messfleckgrößen und ein automatisches Dichtefilterrad ermöglichen eine hohe Flexibilität und sichere Handhabung.
Für das DTS140 NVIS kommt die topaktuelle SpecWin Pro Software für Windows XP und Vista zum Einsatz. Damit können die Messwerte komfortabel und umfassend analysiert und dokumentiert werden. Die Software erlaubt sowohl einfache pass/fail Aussagen, als auch den vollautomatischen Messbetrieb in Produktionsumgebungen.
Das neue DTS140 NVIS erlaubt das Testen der Displays mit einem Turnkey-System, das sofort einsatzbereit ist und schnelle Messungen innerhalb von 30 Sekunden ermöglicht. Es überzeugt mit niedrigsten Gesamtkosten und einer Leistung, die dem Industriestandard SPECTRO 320 um nichts nachsteht. So kann mit dem DTS140 NVIS die NVIS-Strahldichte sogar bei 0.5fL gemessen werden. Da der Polarisationsfehler nur 0,4% beträgt lassen sich auch LCD-Displays präzise testen.
Das neue DTS140 NVIS von Instrument Systems übertrifft alle Anforderungen nach MIL-L-85762A / MIL-STD-3009. Die Messwerte korrelieren hervorragend mit traditionellen, scannenden Spektrometern sowohl für Anzeigenelemente mit LED- als auch für Glühlampenhinterleuchtung. Das Messobjekt lässt sich über die eingebaute CCD Kamera im Sucherokular sehr einfach positionieren und scharf einstellen. Dabei sichert die Pritchard Optik die perfekte Übereinstimmung von Sucherkamerabild und tatsächlichem Messfleck.
Die automatische Wahl von vier unterschiedlichen Messfleckgrößen und ein automatisches Dichtefilterrad ermöglichen eine hohe Flexibilität und sichere Handhabung.
Für das DTS140 NVIS kommt die topaktuelle SpecWin Pro Software für Windows XP und Vista zum Einsatz. Damit können die Messwerte komfortabel und umfassend analysiert und dokumentiert werden. Die Software erlaubt sowohl einfache pass/fail Aussagen, als auch den vollautomatischen Messbetrieb in Produktionsumgebungen.
