Jenoptik präsentiert auf der Photonik-Leitmesse in München ihr breites Produktportfolio an leistungsstarken optischen Komponenten und Systemen und bedient damit aktuelle Trends in der Biophotonik, Laserfertigung, Optoelektronik, Datenübertragung und Imaging.
Zur LASER World of PHOTONICS in München vom 26. bis 29. April 2022 stellt der Jenoptik-Konzern Produktneuheiten vor, die vor allem in der Halbleiterindustrie, Medizintechnik und Lasermaterialbearbeitung für mehr Effizienz und größerer Leistung sorgen. Neben neuen Optiken und Strahlaufweitern informiert Jenoptik mittels Live-Demonstration zum optischen System JENvelt®. Ausgestellt wird zudem die neueste Generation der UFO Probe® Card, einer smarten Test-Lösung für PIC Wafer-Level-Testing.
Anhand einer Miniaturvariante des Mars-Rovers „Perseverance“ können sich Messebesucher zudem über die optischen Technologien und Produkte informieren, die Jenoptik-Ingenieure für die aktuelle „Mars 2020“-Mission der NASA entwickelt, getestet und gefertigt haben.
Besuchen Sie uns vom 26. bis 29. April 2022 auf der LASER World of PHOTONICS in München am Stand #B5.241.
Produktneuheiten für die Lasermaterialbearbeitung
Mit der neuen APTAlineTM-Reihe bietet der Photonik-Spezialist Jenoptik F-Theta-Objektive, die sehr gut auf Kundenanforderungen zugeschnitten sind. Damit reagiert Jenoptik auf sich stetig ändernde Bedarfe am Markt und erhöht mit der neuen F-Theta-Reihe die Applikationsbreite. Die High-Power-Objektive aus Quarzglas bieten eine kostenoptimierte Alternative für anspruchsvollen Anwendungen, bei denen Zuverlässigkeit, Serienstabilität und Langlebigkeit zählen. Sie sind mit den Wellenlängen 355 nm und 1030-1080 nm erhältlich. Die APTAlineTM-Objektive basieren auf dem bewährten Mechanik- sowie Optik-Design von Jenoptik und unterliegen den gleichen hohen Qualitätsstandards wie bestehende F-Theta-Produkte.
Im Bereich der Strahlaufweitung ergänzen die Fix-BEX Beam Expander mit fester Vergrößerung das Produktportfolio von Jenoptik. Egal ob als 1,5x, 2x, 4x oder 8x -Version verbaut: Sie zeigen sich als gute Wahl für Applikationen, bei denen ein gleichbleibender Zoomfaktor und eine klare, stabile Laserleistung gefordert sind. Fix-BEX Strahlaufweiter sind für Wellenlängen von 355 nm, 515…540 nm oder 1030...1080 nm verfügbar und bieten eine große Eingangslaserleistung (Apertur) von bis zu 8 mm (1/e²). Das hochpräzise optische Design sorgt für eine beugungsbegrenzte Abbildung und verhindert internen Foki. Wie die bestehenden Strahlaufweiter verfügen auch die neuen Fix-BEX-Ausführungen über eine Divergenz-Einstellung.
Für hohe Widerstandfähigkeit und Langlebigkeit sind die Gehäuse aus Aluminium bzw. Edelstahl gefertigt. Die optischen Elemente bestehen aus robustem Quarzglas mit AR-Coating. Alle Fix-BEX-Ausführungen sind mit Gewinde an beiden Seiten versehen und können im umgekehrten Modus betrieben werden.
Optoelektronische Lösung für das Wafer-Level-Testing
Die optoelektronische UFO Probe® Card von Jenoptik bietet Wafer-Herstellern bzw. Anbietern von Wafer-Test-Ausrüstung eine zeitsparende und Ausbeute erhöhende Lösung für ein synchrones Testen von elektronische sowie photonischen Bauteilen – und das mit einer einzigen Testkarte. Die UFO Probe® Card ist so konzipiert, dass sie auf bestehender Test-Infrastruktur von elektronischen Bauteilprüfung, funktioniert. Das ermöglicht ein schnelles und einfaches Umrüsten vom elektrischen auf ein opto-elektrisches Testen ohne zusätzlichen Rüstaufwand. Die Prüfkarte vereint ein Optik-Modul zur Funktionsprüfung von photonisch integrierten Schaltkreisen (PICs) und ein klassischen Nadeltester zur Prüfung von elektronischen Komponenten. Auch paralleles Testen mehrerer Chips ist mit der UFO-Probe® Card angedacht und erlaubt eine effiziente Herstellung von leistungsfähigen Chips vor allem in der Hochvolumen-Produktion.
Zur LASER World of PHOTONICS in München vom 26. bis 29. April 2022 stellt der Jenoptik-Konzern Produktneuheiten vor, die vor allem in der Halbleiterindustrie, Medizintechnik und Lasermaterialbearbeitung für mehr Effizienz und größerer Leistung sorgen. Neben neuen Optiken und Strahlaufweitern informiert Jenoptik mittels Live-Demonstration zum optischen System JENvelt®. Ausgestellt wird zudem die neueste Generation der UFO Probe® Card, einer smarten Test-Lösung für PIC Wafer-Level-Testing.
Anhand einer Miniaturvariante des Mars-Rovers „Perseverance“ können sich Messebesucher zudem über die optischen Technologien und Produkte informieren, die Jenoptik-Ingenieure für die aktuelle „Mars 2020“-Mission der NASA entwickelt, getestet und gefertigt haben.
Besuchen Sie uns vom 26. bis 29. April 2022 auf der LASER World of PHOTONICS in München am Stand #B5.241.
Produktneuheiten für die Lasermaterialbearbeitung
Mit der neuen APTAlineTM-Reihe bietet der Photonik-Spezialist Jenoptik F-Theta-Objektive, die sehr gut auf Kundenanforderungen zugeschnitten sind. Damit reagiert Jenoptik auf sich stetig ändernde Bedarfe am Markt und erhöht mit der neuen F-Theta-Reihe die Applikationsbreite. Die High-Power-Objektive aus Quarzglas bieten eine kostenoptimierte Alternative für anspruchsvollen Anwendungen, bei denen Zuverlässigkeit, Serienstabilität und Langlebigkeit zählen. Sie sind mit den Wellenlängen 355 nm und 1030-1080 nm erhältlich. Die APTAlineTM-Objektive basieren auf dem bewährten Mechanik- sowie Optik-Design von Jenoptik und unterliegen den gleichen hohen Qualitätsstandards wie bestehende F-Theta-Produkte.
Im Bereich der Strahlaufweitung ergänzen die Fix-BEX Beam Expander mit fester Vergrößerung das Produktportfolio von Jenoptik. Egal ob als 1,5x, 2x, 4x oder 8x -Version verbaut: Sie zeigen sich als gute Wahl für Applikationen, bei denen ein gleichbleibender Zoomfaktor und eine klare, stabile Laserleistung gefordert sind. Fix-BEX Strahlaufweiter sind für Wellenlängen von 355 nm, 515…540 nm oder 1030...1080 nm verfügbar und bieten eine große Eingangslaserleistung (Apertur) von bis zu 8 mm (1/e²). Das hochpräzise optische Design sorgt für eine beugungsbegrenzte Abbildung und verhindert internen Foki. Wie die bestehenden Strahlaufweiter verfügen auch die neuen Fix-BEX-Ausführungen über eine Divergenz-Einstellung.
Für hohe Widerstandfähigkeit und Langlebigkeit sind die Gehäuse aus Aluminium bzw. Edelstahl gefertigt. Die optischen Elemente bestehen aus robustem Quarzglas mit AR-Coating. Alle Fix-BEX-Ausführungen sind mit Gewinde an beiden Seiten versehen und können im umgekehrten Modus betrieben werden.
Optoelektronische Lösung für das Wafer-Level-Testing
Die optoelektronische UFO Probe® Card von Jenoptik bietet Wafer-Herstellern bzw. Anbietern von Wafer-Test-Ausrüstung eine zeitsparende und Ausbeute erhöhende Lösung für ein synchrones Testen von elektronische sowie photonischen Bauteilen – und das mit einer einzigen Testkarte. Die UFO Probe® Card ist so konzipiert, dass sie auf bestehender Test-Infrastruktur von elektronischen Bauteilprüfung, funktioniert. Das ermöglicht ein schnelles und einfaches Umrüsten vom elektrischen auf ein opto-elektrisches Testen ohne zusätzlichen Rüstaufwand. Die Prüfkarte vereint ein Optik-Modul zur Funktionsprüfung von photonisch integrierten Schaltkreisen (PICs) und ein klassischen Nadeltester zur Prüfung von elektronischen Komponenten. Auch paralleles Testen mehrerer Chips ist mit der UFO-Probe® Card angedacht und erlaubt eine effiziente Herstellung von leistungsfähigen Chips vor allem in der Hochvolumen-Produktion.
