Aufgrund dieses Kunstgriffes kann das Zeitintervall zwischen Referenzmessungen erheblich vergrößert werden. Gegenüber der Vorgänger-Serie ist das Dunkelsignal-Muster etwa um den Faktor 5 stabiler und kommt jetzt in einen Bereich, den man bisher lediglich von Fotodioden-Arrays kannte.
Weitere Informationen http://www.lasercomponents.com/...
Messen
BiOS 2012, 21.-22.01.2012, The Moscone Center, San Francisco, South Hall - Stand 8517
Photonics West 2012, 24.-26.01.2012, Moscone Center, San Francisco, South Hall - Stand 517
Analytica 2012, 17.-20.04.2012, Neue Messe München, Stand A2.400A