LASER COMPONENTS präsentiert zwei neue Single Photon Counting Module auf der BiOS/Photonics West 2013: COUNT® NIR und COUNT® Q - beide optimiert für lange Wellenlängen.
COUNT® NIR. Das COUNT® NIR ist mit einer APD ausgestattet, die eine überdurchschnittliche Detektionseffizienz bei 810 nm hat. Diese Wellenlänge spielt eine wichtige Rolle bei Anwendungen in der Quantenkryptographie!
Die hervorragenden Leistungen der verschiedenen COUNT® Module sind auf ein propriätäres APD-Design zurückzuführen, das von der LASER COMPONENTS Detector Group in Arizona, USA, entwickelt wurde. Durch die eigene Fertigung ist es LASER COMPONENTS möglich, die Entwicklung in eine definierte Richtung voranzutreiben: nur so entstehen die Produkte, welche den Bedürfnissen der Kunden vollkommen gerecht werden.
COUNT® Q. Als Highlight wird auf der BiOS das COUNT® Q vorgestellt. Viele Kunden arbeiten mit Wellenlängen im IR, die mit Silizium nicht mehr erfasst werden können. Das COUNT® Q ist daher mit einer InGaAs APD ausgestattet, das einen Wellenlängenbereich von 900 bis 1600 nm abdeckt. Um die beste Performance zu erzielen, ist die APD thermoelektrisch gekühlt! Ebenso wie die Silizium-APD-basierten COUNT® Modelle ist bei der Entwicklung des COUNT® Q Modells auf zweierlei geachtet worden: auf eine besonders hohe Detektionseffizienz und auf einen geringen Dunkelstrom.
Weitere Produktdetails werden bald verfügbar sein!
Weitere Informationen: http://www.lasercomponents.com/de/photonenzaehler/photonenzaehlwerke/
Messen
BiOS 2013, 02.-03.02.2013, Moscone Center, San Francisco, USA, Stand 8517
Photonics West 2013, 05.-07.02.2013, Moscone Center, San Francisco, USA, Stand 517
LASER. World of Photonics, 13.-16.05.2013, Neue Messe München, Germany, Stand B1.442
Sensor + Test, 14.-16.05.2013, Messe Nürnberg, Germany, Stand 12-609
COUNT® NIR. Das COUNT® NIR ist mit einer APD ausgestattet, die eine überdurchschnittliche Detektionseffizienz bei 810 nm hat. Diese Wellenlänge spielt eine wichtige Rolle bei Anwendungen in der Quantenkryptographie!
Die hervorragenden Leistungen der verschiedenen COUNT® Module sind auf ein propriätäres APD-Design zurückzuführen, das von der LASER COMPONENTS Detector Group in Arizona, USA, entwickelt wurde. Durch die eigene Fertigung ist es LASER COMPONENTS möglich, die Entwicklung in eine definierte Richtung voranzutreiben: nur so entstehen die Produkte, welche den Bedürfnissen der Kunden vollkommen gerecht werden.
COUNT® Q. Als Highlight wird auf der BiOS das COUNT® Q vorgestellt. Viele Kunden arbeiten mit Wellenlängen im IR, die mit Silizium nicht mehr erfasst werden können. Das COUNT® Q ist daher mit einer InGaAs APD ausgestattet, das einen Wellenlängenbereich von 900 bis 1600 nm abdeckt. Um die beste Performance zu erzielen, ist die APD thermoelektrisch gekühlt! Ebenso wie die Silizium-APD-basierten COUNT® Modelle ist bei der Entwicklung des COUNT® Q Modells auf zweierlei geachtet worden: auf eine besonders hohe Detektionseffizienz und auf einen geringen Dunkelstrom.
Weitere Produktdetails werden bald verfügbar sein!
Weitere Informationen: http://www.lasercomponents.com/de/photonenzaehler/photonenzaehlwerke/
Messen
BiOS 2013, 02.-03.02.2013, Moscone Center, San Francisco, USA, Stand 8517
Photonics West 2013, 05.-07.02.2013, Moscone Center, San Francisco, USA, Stand 517
LASER. World of Photonics, 13.-16.05.2013, Neue Messe München, Germany, Stand B1.442
Sensor + Test, 14.-16.05.2013, Messe Nürnberg, Germany, Stand 12-609
