Mit einem hohen Vergrößerungsgrad untersucht das D-Scope MT in einem einzigen Messzyklus die Oberfläche jeder einzelnen Faser. So lassen sich die Faserendflächen und die Führungsbohrungen auf ihre Sauberkeit untersuchen.
Das vollautomatische System eignet sich hervorragend, um Konformität zu den IEC-Standards zu gewährleisten. Auf der Grundlage von jahrelanger praktischer Branchenerfahrung wurde es für den Einsatz in Standard-Produktionslinien, automatisierten Herstellungsprozessen und Laboranwendungen entwickelt.
Optimale Leistung, Genauigkeit und Wiederholbarkeit bei der Fehlererkennung erzielt das D-Scope MT in Verbindung mit der IEC-konformen Inspektionssoftware BLINK von Data-Pixel.
Weitere Informationen www.lasercomponents.com/de/produkt/tischmikroskope/
Messen
ANGACOM, 04. – 06. Juni 2019, Köln, Stand 7.B9
Photonex Glasgow, 05. Juni 2019, University of Strathclyde, UK, Stand G25
Sensors Expo & Conference, 25. – 27. Juni 2019, San Jose, CA, USA, Stand 419
LASER World of PHOTONICS, 24. – 27. Juni 2019, München, Stand B3.303
SPIE Optics+Photonics, 13. – 15. August 2019, San Diego, CA, USA, Stand 425
ECOC, 22. – 26. September 2019, Dublin, Irland, Stand 337
Photonex Europe, 09. – 10. Oktober 2019, Ricoh Arena, Coventry, UK, Stand D15