Die Avalanche Photodioden der SUR Serie eignen sich aufgrund ihrer sehr hohen Empfindlichkeit und einem extrem niedrigen Rauschen für Messungen in der Photometrie oder bei analytischen Systemen ebenso wie für Fluoreszenzmessungen.
Die Fotodiode kann neben Messungen im optimierten blauen bzw. ultravioletten Spektralbereich für die Detektion im gesamten Wellenlängenbereich zwischen 200 nm und 1000 nm eingesetzt werden.
Hervorragend sind die erreichten Spezifikationen. Bei 400 nm hat die SUR500 ein Noise Equivalent Power NEP von lediglich typ. 9 fW/sqrt(Hz) bei einer Empfindlichkeit von etwa 28 A/W. Derartige Werte lassen sich durch die spezielle, von LASER COMPONENTS entwicklelte, Reach-Through Struktur erreichen.
Angeboten wird die SUR-Serie zunächst mit einem aktiven Durchmesser von 500 μm.
Weitere rauscharme Versionen mit 1,5 mm und 3 mm werden in Kürze folgen. Die speziell für den UV-Bereich optimierten TO-Gehäuse sind hermetisch abgeschlossen und sehr kompakt.
Weitere Informationen http://www.lasercomponents.com/...