Das wissenschaftliche Komitee hat Prof. Dr. Lerche, Geschäftsführer der LUM GmbH, eingeladen zwei Keynote Lectures zu halten.
Die Oberflächencharakterisierung von Nano- und Submikronteilchen, dispergiert in Flüssigkeiten, mittels in-situ Visualisierung des Separationsverhaltens bildet den Schwerpunkt des ersten Beitrags. Eine einfache Bestimmung des Löslichkeitsparameters nach Hansen unter Nutzung der LUM-Messgeräte LUMiReader PSA® und LUMiSizer® ist von zunehmender Bedeutung für das Verständnis von Separationsvorgängen, nicht nur für neue Designpartikel sondern auch in traditionellen Applikationen z.B. der Farben- und Lackindustrie.
Um die orts- und zeitaufgelöste Bestimmung von Konzentrationsprofilen in hochkonzentrierten Dispersionen und Sedimenten mittels Röntgen-STEP-Technologie® geht es im zweiten Beitrag. Kommerziell verfügbar ist hierfür der LUMiReader X-ray®.
Maxim Loginov von der Université de Technologie de Compiègne, France, berichtet über Forschungsergebnisse der Sedimentanalyse durch die Kombination der Separation im Zentrifugalfeld und anschließende Sedimentstrukturanalyse mittels Röntgentechnik, in Zusammenarbeit mit LUM GmbH und dem Institute of Biocolloidal Chemistry Kyiv, Ukraine.
Konferenzbegleitend wird LUM GmbH France die messtechnischen Lösungen Multiwellenlängen-LUMiSizer®, LUMiReader PSA® und LUMiReader X-ray® auf der Geräteausstellung präsentieren.