Vom 19. bis 22. Mai findet in der chinesischen Hauptstadt Peking, organisiert von der Chinese Society of Particuology, der 7. World Congress on Particle Technology (WCPT 7) statt.
Als forschendes Berliner Unternehmen freut sich die LUM GmbH zum ausgewählten Kreis der Sponsoren zu zählen und somit aktiv zum Gelingen der Veranstaltung beizutragen. Gemeinsam mit dem Organisator heißt LUM die Teilnehmer aus aller Welt in Peking willkommen.
Die LUM GmbH zählt zu den weltweit führenden Herstellern von innovativen Analysatoren zur direkten und beschleunigten Stabilitätsanalytik und Partikelcharakterisierung von Dispersionen. Seit der Markteinführung des ersten Stabilitätsanalysators LUMiFuge® im Jahr 1998 werden die LUM-Messgeräte national und international erfolgreich in der Partikelcharakterisierung und mit der Einführung des Multiwellenlängen-Dispersionsanalysators LUMiSizer® im Jahr 2012 zunehmend in der Nanotechnologie eingesetzt. Der Anwendungsbreite sind kaum Grenzen gesetzt. Anwender bestimmen partikuläre Eigenschaften wie Größe, Dichte und Magnetisierbarkeit neben den Dispersions- und Stabilitätseigenschaften der Formulierung in Originalkonzentration.
Am wissenschaftlichen Programm des WCPT7 beteiligt sich LUM mit eigenen Forschungsergebnisse in vier Symposien.
Auf Einladung des Organisators wird LUM GmbH (Torsten Detloff) in der Brian Scarlett Memorial Session auf zukünftige Anforderungen der Partikelcharakterisierung eingehen, welche zunehmend von den geometrischen Kenngrößen auf die Analyse der Oberflächeneigenschaften gerichtet sind.
Auch die Dichte von Mikro- und Nanopartikeln spielt eine wichtige Rolle in der Forschung und Entwicklung von Suspensionen und Emulsionen, insbesondere wenn in Flüssigkeit dispergierte Partikel andere Eigenschaften als im trockenen Zustand aufweisen, wie z.B. bei porösen Materialien oder Hydrokolloidpartikeln. Über die Quantifizierung der Flockung und kolloidale Kristallisation von nanogroßen Metalloxiden in wässriger Dispersion mittels in-situ Separationsvisualisierung trägt Dietmar Lerche vor.
Die Fachbeiträge von LUM GmbH werden abgerundet durch einem Vortrag (T. Detloff) zur Bestimmung der volumengewichteten Partikelgrößenverteilung ohne Kenntnis von Brechungsindices. Dieses innovative Messprinzip wurde bereits technisch realisiert im Multiwellenlängen-Separationsanalysator LUMiReader PSA®.
In der Ausstellung wird am Stand von LUM / Twinson die gesamte Gerätepalette vorgestellt. Insbesondere durch die allen modernen Anforderungen gerecht werdende Software SEPView® 6 wird die simultane Analyse der Partikelgrößenverteilung bzw. der Stabilität von bis zu 24 Proben automatisiert und wesentlich effektiviert.
Die ausgestellten Multiwellenlängen-LUMiReader® PSA sowie der Dispersionsanalysator LUMiSizer® gewährleisten mit der Bestimmung der hydrodynamischen Partikeldichte, der Separationsgeschwindigkeitsverteilung und der Partikelgrößenverteilung, in Ergänzung zum direkten Stabilitätsergebnis ein umfassendes Verständnis komplexer industrieller Produkte auf eine einfache Art und Weise.
Veranstaltungsinformation und Anmeldung:
http://www.wcpt7.org
Als forschendes Berliner Unternehmen freut sich die LUM GmbH zum ausgewählten Kreis der Sponsoren zu zählen und somit aktiv zum Gelingen der Veranstaltung beizutragen. Gemeinsam mit dem Organisator heißt LUM die Teilnehmer aus aller Welt in Peking willkommen.
Die LUM GmbH zählt zu den weltweit führenden Herstellern von innovativen Analysatoren zur direkten und beschleunigten Stabilitätsanalytik und Partikelcharakterisierung von Dispersionen. Seit der Markteinführung des ersten Stabilitätsanalysators LUMiFuge® im Jahr 1998 werden die LUM-Messgeräte national und international erfolgreich in der Partikelcharakterisierung und mit der Einführung des Multiwellenlängen-Dispersionsanalysators LUMiSizer® im Jahr 2012 zunehmend in der Nanotechnologie eingesetzt. Der Anwendungsbreite sind kaum Grenzen gesetzt. Anwender bestimmen partikuläre Eigenschaften wie Größe, Dichte und Magnetisierbarkeit neben den Dispersions- und Stabilitätseigenschaften der Formulierung in Originalkonzentration.
Am wissenschaftlichen Programm des WCPT7 beteiligt sich LUM mit eigenen Forschungsergebnisse in vier Symposien.
Auf Einladung des Organisators wird LUM GmbH (Torsten Detloff) in der Brian Scarlett Memorial Session auf zukünftige Anforderungen der Partikelcharakterisierung eingehen, welche zunehmend von den geometrischen Kenngrößen auf die Analyse der Oberflächeneigenschaften gerichtet sind.
Auch die Dichte von Mikro- und Nanopartikeln spielt eine wichtige Rolle in der Forschung und Entwicklung von Suspensionen und Emulsionen, insbesondere wenn in Flüssigkeit dispergierte Partikel andere Eigenschaften als im trockenen Zustand aufweisen, wie z.B. bei porösen Materialien oder Hydrokolloidpartikeln. Über die Quantifizierung der Flockung und kolloidale Kristallisation von nanogroßen Metalloxiden in wässriger Dispersion mittels in-situ Separationsvisualisierung trägt Dietmar Lerche vor.
Die Fachbeiträge von LUM GmbH werden abgerundet durch einem Vortrag (T. Detloff) zur Bestimmung der volumengewichteten Partikelgrößenverteilung ohne Kenntnis von Brechungsindices. Dieses innovative Messprinzip wurde bereits technisch realisiert im Multiwellenlängen-Separationsanalysator LUMiReader PSA®.
In der Ausstellung wird am Stand von LUM / Twinson die gesamte Gerätepalette vorgestellt. Insbesondere durch die allen modernen Anforderungen gerecht werdende Software SEPView® 6 wird die simultane Analyse der Partikelgrößenverteilung bzw. der Stabilität von bis zu 24 Proben automatisiert und wesentlich effektiviert.
Die ausgestellten Multiwellenlängen-LUMiReader® PSA sowie der Dispersionsanalysator LUMiSizer® gewährleisten mit der Bestimmung der hydrodynamischen Partikeldichte, der Separationsgeschwindigkeitsverteilung und der Partikelgrößenverteilung, in Ergänzung zum direkten Stabilitätsergebnis ein umfassendes Verständnis komplexer industrieller Produkte auf eine einfache Art und Weise.
Veranstaltungsinformation und Anmeldung:
http://www.wcpt7.org
