Vom 15. bis 18. September findet in der koreanischen Hauptstadt Seoul, organisiert vom Korean Institute of Chemical Engineers, Division of Fine Particles Technology, das 6. Asian Particle Technology Symposium (APT2015) statt.
Als forschendes Berliner Unternehmen freut sich die LUM GmbH zum ausgewählten Kreis der Sponsoren zu zählen und somit aktiv zum Gelingen der Veranstaltung beizutragen. Gemeinsam mit dem Organisator heißt LUM die Teilnehmer aus aller Welt in Seoul willkommen.
Die LUM GmbH zählt zu den weltweit führenden Herstellern von innovativen Analysatoren zur direkten und beschleunigten Stabilitätsanalytik und Partikelcharakterisierung von Dispersionen. Seit der Markteinführung des ersten Stabilitätsanalysators LUMiFuge® im Jahr 1998 werden die LUM-Messgeräte national und international erfolgreich in der Partikelcharakterisierung und mit der Einführung des Multiwellenlängen-Dispersionsanalysators LUMiSizer® im Jahr 2012 zunehmend in der Nanotechnologie eingesetzt. Der Anwendungsbreite sind kaum Grenzen gesetzt. Anwender bestimmen partikuläre Eigenschaften wie Größe, Dichte und Magnetisierbarkeit neben den Dispersions- und Stabilitätseigenschaften der Formulierung in Originalkonzentration.
Mit der Markteinführung des LUMiReader® X-Ray in diesem Jahr bietet LUM nun auch die Kombination der Röntgenmesstechnik mit der proprietären STEP-Technologie® und schließt die Lücke für Untersuchungen sowohl für hochtransparente Nanopartikelsuspensionen, wie z.B. Nanosilica, als auch für hochgefüllte, lichtundurchlässige Formulierungen, wie Schäume oder Schlicker. In-situ, in Echtzeit, nicht-invasiv und zerstörungsfrei.
Am wissenschaftlichen Programm des APT2015 beteiligt sich LUM mit eigenen Forschungsergebnissen in zwei Vorträgen am 16.9.2015.
Im Beitrag „New Insight into Concentrated Micro- and Nanodispersions by X-Ray Concentration Profiling“ werden Lösungen für die Bestimmung des Separationsverhaltens und der Homogenität von hochkonzentrierten Dispersionen aufgezeigt, insbesondere auch für komplexe Mischungen von mehreren dispergierten Partikeln. Selbst transparente hochgefüllte Suspensionen von „kleinen“ Nanopartikeln (im einstelligen Nanometerbereich) sind analysierbar.
“Characterization of Dispersibility and Dispersion Quality” setzt den Fokus auf die analytische Bewertung von Dispergierbarkeit, Dispersionsqualität und die Bestimmung des Hansen-Parameters insbesondere für Nanodispersionen und Pigmente mit dem LUMiSizer®.
Auf Einladung des Organisators wird Prof. Dr. Lerche das Teilsymposium OP37 Agglomeration & Colloidal Processing leiten.
Die ausgestellten Multiwellenlängen-LUMiReader® PSA sowie der Dispersionsanalysator LUMiSizer® gewährleisten mit der Bestimmung der hydrodynamischen Partikeldichte, der Separationsgeschwindigkeitsverteilung und der Partikelgrößenverteilung, in Ergänzung zum direkten Stabilitätsergebnis ein umfassendes Verständnis komplexer industrieller Produkte auf eine einfache Art und Weise.
LUM und die Partner des koreanischen Distributor Youngjin Corporation freuen sich auf Ihren Besuch am Ausstellungsstand, und präsentieren auch den LUMiReader® X-Ray sowie das Haftfestigkeitsmessgerät LUMiFrac®.
Veranstaltungsinformation und Anmeldung:
http://apt2015.org/
Als forschendes Berliner Unternehmen freut sich die LUM GmbH zum ausgewählten Kreis der Sponsoren zu zählen und somit aktiv zum Gelingen der Veranstaltung beizutragen. Gemeinsam mit dem Organisator heißt LUM die Teilnehmer aus aller Welt in Seoul willkommen.
Die LUM GmbH zählt zu den weltweit führenden Herstellern von innovativen Analysatoren zur direkten und beschleunigten Stabilitätsanalytik und Partikelcharakterisierung von Dispersionen. Seit der Markteinführung des ersten Stabilitätsanalysators LUMiFuge® im Jahr 1998 werden die LUM-Messgeräte national und international erfolgreich in der Partikelcharakterisierung und mit der Einführung des Multiwellenlängen-Dispersionsanalysators LUMiSizer® im Jahr 2012 zunehmend in der Nanotechnologie eingesetzt. Der Anwendungsbreite sind kaum Grenzen gesetzt. Anwender bestimmen partikuläre Eigenschaften wie Größe, Dichte und Magnetisierbarkeit neben den Dispersions- und Stabilitätseigenschaften der Formulierung in Originalkonzentration.
Mit der Markteinführung des LUMiReader® X-Ray in diesem Jahr bietet LUM nun auch die Kombination der Röntgenmesstechnik mit der proprietären STEP-Technologie® und schließt die Lücke für Untersuchungen sowohl für hochtransparente Nanopartikelsuspensionen, wie z.B. Nanosilica, als auch für hochgefüllte, lichtundurchlässige Formulierungen, wie Schäume oder Schlicker. In-situ, in Echtzeit, nicht-invasiv und zerstörungsfrei.
Am wissenschaftlichen Programm des APT2015 beteiligt sich LUM mit eigenen Forschungsergebnissen in zwei Vorträgen am 16.9.2015.
Im Beitrag „New Insight into Concentrated Micro- and Nanodispersions by X-Ray Concentration Profiling“ werden Lösungen für die Bestimmung des Separationsverhaltens und der Homogenität von hochkonzentrierten Dispersionen aufgezeigt, insbesondere auch für komplexe Mischungen von mehreren dispergierten Partikeln. Selbst transparente hochgefüllte Suspensionen von „kleinen“ Nanopartikeln (im einstelligen Nanometerbereich) sind analysierbar.
“Characterization of Dispersibility and Dispersion Quality” setzt den Fokus auf die analytische Bewertung von Dispergierbarkeit, Dispersionsqualität und die Bestimmung des Hansen-Parameters insbesondere für Nanodispersionen und Pigmente mit dem LUMiSizer®.
Auf Einladung des Organisators wird Prof. Dr. Lerche das Teilsymposium OP37 Agglomeration & Colloidal Processing leiten.
Die ausgestellten Multiwellenlängen-LUMiReader® PSA sowie der Dispersionsanalysator LUMiSizer® gewährleisten mit der Bestimmung der hydrodynamischen Partikeldichte, der Separationsgeschwindigkeitsverteilung und der Partikelgrößenverteilung, in Ergänzung zum direkten Stabilitätsergebnis ein umfassendes Verständnis komplexer industrieller Produkte auf eine einfache Art und Weise.
LUM und die Partner des koreanischen Distributor Youngjin Corporation freuen sich auf Ihren Besuch am Ausstellungsstand, und präsentieren auch den LUMiReader® X-Ray sowie das Haftfestigkeitsmessgerät LUMiFrac®.
Veranstaltungsinformation und Anmeldung:
http://apt2015.org/
