Zuverlässige Messdaten liefern Ist-Werte über die Produktqualität, die für die Steuerung von Produktionsprozessen unerlässlich sind. Die vollautomatisierbaren konfokalen 3D-Oberflächenmesssysteme von NanoFocus können direkt in Fertigungsanlagen zur 100%-Kontrolle integriert oder zur Stichprobenkontrolle (Einzel- und Serienmessungen) fertigungsnah eingesetzt werden.
Komplexe Messstrategien und Auswertungen lassen sich mit der Automatisierungssoftware µsoft automation kundenspezifisch konfigurieren. Die Messdaten werden direkt in vordefinierte Ergebnisprotokolle überführt oder über zahlreiche Datenschnittstellen (z.B. SECS-GEM Interface) exportiert. Damit stehen sie für Soll-/Ist-Vergleiche zur Verfügung oder können für weitere Auswertungen an qs-STAT, Matlab, verschiedene Datenbanken oder SPC-Charts übergeben werden.
Bei Serienmessungen entfällt der Anwendereingriff durch zahlreiche Features wie Passmarkenerkennung, automatisiertes Alignment und Messbereichsnachführung vollständig. Die Unterstützung von Wafer-Map-Importen oder OCR/DDM/Bar Code Reading erfüllt gängige Industriestandards zur Produktidentifikation.
Für eine optimierte Dokumentation werden Messdaten und Auswertungen dauerhaft in einer datenbankbasierten Auswertebibliothek der NanoFocus-Software gespeichert und können damit zur statistischen Prozesskontrolle genutzt werden.
NanoFocus hat automatisierte Messanlagen bei namhaften Herstellern in verschiedenen Branchen erfolgreich in Betrieb genommen. Dazu zählen die vollautomatische Wafer-Inspektion in der Halbleiterfertigung, die Serienkontrolle künstlicher Kniegelenke und Zahnimplantate in der Medizintechnik und die Messung von Mikro-Schweißnähten und kritischen Oberflächen an Automobilteilen.