Advancing Measurements by Light - Vorteile für Produktentwicklung und Qualitätssicherung: das generelle Leitmotiv von Polytec beschreibt treffend das auf der MicroNanoTec 2011 präsentierte Lösungsangebot des Spezialisten für berührungslose optische Messtechnik.
Als Neuheiten präsentiert Polytec auf dem IVAM-Stand das MSA-050-3D Vibrometer für die 3D-Schwingungsmessung an Mikrosystemen sowie die einfach und vielseitig einsetzbaren optischen Topografie-Punktsensoren der TopSens-Linie.
Ein weiteres Highlight ist das Polytec UHF-120 Ultrahochfrequenz- Vibrometer. Es ermöglicht durch ein innovatives Design, Bewegungen von MEMS und anderen hochfrequent schwingenden Strukturen mit Frequenzen bis 1,2 GHz und Amplituden im sub-pm-Bereich einfach und berührungslos zu messen und auch in "Slow-Motion" zu visualisieren. Das neue Polytec Mess-System ist aufgrund seiner Frequenzbandbreite somit das perfekte Werkzeug für die Untersuchung hochfrequenter RF-MEMS und mittels der hohen lateralen Auflösung des Systems prädestiniert für die Untersuchung und dynamische Charakterisierung von Systemen mit kurzen akustischen Wellenlängen, wie beispielsweise SAWs oder BAWs.
Und als All-In-One Lösung zeigen wir den MSA-500 Micro System Analyzer als ideales Entwicklungswerkzeug für die vollständige Charakterisierung von Dynamik und Topografie von MEMS-Bausteinen.
Weitere Info: http://www.polytec.de
Als Neuheiten präsentiert Polytec auf dem IVAM-Stand das MSA-050-3D Vibrometer für die 3D-Schwingungsmessung an Mikrosystemen sowie die einfach und vielseitig einsetzbaren optischen Topografie-Punktsensoren der TopSens-Linie.
Ein weiteres Highlight ist das Polytec UHF-120 Ultrahochfrequenz- Vibrometer. Es ermöglicht durch ein innovatives Design, Bewegungen von MEMS und anderen hochfrequent schwingenden Strukturen mit Frequenzen bis 1,2 GHz und Amplituden im sub-pm-Bereich einfach und berührungslos zu messen und auch in "Slow-Motion" zu visualisieren. Das neue Polytec Mess-System ist aufgrund seiner Frequenzbandbreite somit das perfekte Werkzeug für die Untersuchung hochfrequenter RF-MEMS und mittels der hohen lateralen Auflösung des Systems prädestiniert für die Untersuchung und dynamische Charakterisierung von Systemen mit kurzen akustischen Wellenlängen, wie beispielsweise SAWs oder BAWs.
Und als All-In-One Lösung zeigen wir den MSA-500 Micro System Analyzer als ideales Entwicklungswerkzeug für die vollständige Charakterisierung von Dynamik und Topografie von MEMS-Bausteinen.
Weitere Info: http://www.polytec.de
