Die Großen der Automobilbranche haben microtec als unabhängiges und zertifiziertes Testhaus beauftragt, Erfahrungswerte zum Thema `Alterung unterschiedlicher Elektronik in Kraftfahrzeugen` aufzuzeigen. Belegt wurde die umfangreiche Studie mit Fallbeispielen aus der Praxis.
Zum Thema `Sicherung der Langzeitverfügbarkeit` erstellte microtec Empfehlungen zur Lagerung sowie zur Verarbeitbarkeit elektronischer Komponenten nach einer bestimmten Lagerzeit.
Neben Baugruppen und Geräten wurden einzelne Bauelemente, unter anderem Standard-ICs und ASICs, LEDs, LCDs, CCD- und CMOS-Imagesensoren sowie andere Sensoren in Risikoklassen zur Lagerung eingeteilt. Auch zum Alterungsverhalten verschiedener passiver Bauelemente und Baugruppen erstellte microtec Aussagen.
Auftraggeber der Studie waren namhafte europäische Autobauer wie die BMW Group, DaimlerChrysler und Volkswagen sowie deren Zulieferanten Bosch und Conti Temic. Für die Erstellung wurde ein neutraler und erfahrener Partner gesucht, der über fundiertes und praxis-orientiertes Know-how in der Automobilbranche verfügt und in dem Stuttgarter Testhaus gefunden.
„Aussagen zur Langzeit-Zuverlässigkeit und Lebensdauer von elektronischen und optoelektronischen Bauteilen treffen wir praktisch täglich“, so Reinhard Pusch, Geschäftsführer der microtec. Das zertifizierte und unabhängige Testlabor hat nicht nur in Studien und Einzeluntersuchungen, sondern auch in Produktionstests, Qualifikationen und Analysen Erfahrung. „Wir zählen namhafte Halbleiterhersteller, Automobilzulieferer, Firmen aus der Luft- und Raumfahrt und anderen Applikationen zu unseren Kunden, die sich täglich auf unsere Aussagen und Testergebnisse verlassen“, erläutert der Geschäftsführer den Kundenkreis.
microtec führt nicht nur Tests und Qualifikationen nach Automotive-Standards durch (z.B. AEC-Q), sondern auch für die Luft- und Raumfahrt (z.B. ESCC), Bahntechnik, Telekommunikation und andere Industrie-Elektronik. Neben Recherchen und technischer Beratung, beispielsweise zur RoHs-Compliance, sind Halbleitertest, Produktqualifikation und Fehleranalyse die Kern-Dienstleistungen.
Speziell Burn-In und andere Lebensdauer-Tests wie beispielsweise Umweltsimulationstests, lassen Aussagen zur Lebensdauer elektronischer Bauteile zu. Die Zuverlässigkeit von Baugruppen oder Bauteilen berechnet microtec außerdem mithilfe der MTBF (MeanTime Between Failure)-Kalkulation. Ebenso werden die FIT (Failure In Time)-Rate bei Bauteiltes mittels Weibull-Statistik berechnet und die Ausfallmechanismen analysiert.
Besuchen Sie microtec auf der electronica (14.-17.11.) in München, Stand Nr. A1.563.
Weitere Informationen: www.microtec.de/presse