Lauterbach Announces TRACE32 Debug and Trace Support for Latest Synopsys ASIP Designer Tool
Lauterbach's TRACE32® tools now offer interoperability with the latest Synopsys ASIP Designer™ tool for designing applic…
Schutz für empfindliche Elektronik
Ob Baumaschinen, Luftfahrzeuge, Schiffe oder Autos – eines haben sie gemeinsam: Die hoch empfindliche Elektronik ist oft…
Wegbereiter für die Halbleiterzukunft: Chiplet Center of Excellence nimmt Arbeit auf
Dresden: Drei Fraunhofer-Institute haben in Dresden eine zukunftsweisende Forschungsinitiative gestartet: das Chiplet Ce…
Prof. Ulrike Ganesh und Prof. Martin Schneider-Ramelow schmieden zukünftig als Doppelspitze die Strategie des Fraunhofer IZM
Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM freut sich, die Ernennung von Prof. Dr.-Ing. Ulrike…
Elmos feiert 40-jähriges Jubiläum
In diesem Jahr feiert die Elmos Semiconductor SE ihr 40-jähriges Bestehen. Seit der Gründung im Jahr 1984 hat Elmos mit…
Zuverlässigere Kontaktierung von Leistungshalbleitern dank neu bewerteter Drahtbondmaterialien
Zur Beurteilung der Verbindungsqualität von Bondstellen (sog. „Wedges“) zum Chip werden Schertests durchgeführt. Dabei w…
Digital Earth Leakage Current Detector
Nisshinbo Micro Devices Inc., a leading provider of innovative semiconductor solutions, is proud to announce the release…
Digitaler Fehlerspannungsdetektor
Nisshinbo Micro Devices Inc., ein führender Anbieter von innovativen Halbleiterlösungen, ist stolz darauf, sein neuestes…
Lauterbach Supports Microchip’s PIC64GX RISC-V® MPUs
Lauterbach’s TRACE32® development tools now support Microchip’s 64-bit RISC-V® PIC64GX microprocessor family for power-e…
Lauterbach unterstützt Microchips PIC64GX RISC-V® MPUs
Die TRACE32® Entwicklungswerkzeuge von Lauterbach unterstützen jetzt die 64-Bit RISC-V® PIC64GX Mikroprozessorfamilie…