Powerful New Semiconductor Tool Introduced by Park Systems Combines Atomic Force Microscopy with White Light Interferometry
Park Systems, world leading manufacturer of Atomic Force Microscopes announced the launch of Park NX-Hybrid WLI, the fir…
Newsrooms
Fraunhofer HHI nimmt Arbeit an EU-Forschungsprojekt COPA EUROPE auf
Das Fraunhofer Heinrich-Hertz-Institut (HHI) hat die Arbeit am Forschungsprojekt COPA EUROPE aufgenommen. Ziel des Proje…
Dem Verbotsantrag "die Luft aus den Reifen gelassen"
„Prof. Franz Josef Düwell hat mit zutreffenden Argumenten in seinem Fachgutachten dargelegt, dass das in einigen politis…
Measurement of thin coating on paper and film
Self-adhesive notes, dark sun protection film or water-repellent sticking-plaster – coated film and paper products have…
Messung dünner Beschichtungen auf Papier und Folie
Selbstklebende Notizblätter, dunkle Sonnenschutzfolien oder wasserabweisende Heftpflaster - beschichtete Folien- und Pap…
Weißlichtinterferometrie der nächsten Generation: neue Produktreihe für ultraschnelle und hochpräzise Messergebnisse
Die einfach zu bedienende und vielseitige Weißlichtinterferometrie (WLI) für Messungen direkt an der Linie erhält ein n…
So schnell und sicher wie der Schlitten vom Weihnachtsmann
Dieses Jahr hat sich der Weihnachtsbüffel wieder etwas einfallen lassen, denn der aktuelle Wunschzettel steht ganz im Ze…
Optisches Mikroskop mit Weißlichtinterferometer für F&E
MicroScope WLI" heißt das neue optische Oberflächenmessgerät aus dem Hause Fries Research & Technology (FRT). Auf Basis…
Buffalo Technology setzt Standards und macht die neue ac-Technologie verfügbar
Die langen Wartezeiten beim Streamen und Downloaden über das WLAN sind Vergangenheit. Mit der Buffalo Technology AirStat…
Buffalo Technology setzt Standards und macht die neue ac-Technologie verfügbar
Die langen Wartezeiten beim Streamen und Downloaden über das WLAN sind Vergangenheit. Mit der Buffalo Technology AirStat…