Neue Hardware für niedrigere Nachweisgrenzen "Unser Ziel war es, die ohnehin sehr guten Nachweisgrenzen des XEPOS noch weiter zu senken, um langfristig den Analysevorgaben der Norminstitute zu genügen", berichtet Dirk Wissmann, Produktmanager für RFA bei SPECTRO. Daher wurde das XEPOS mit einem Si-Drift-Detektor der neuesten Generation ausgestattet. Besonders bei der Analyse leichter Elemente erreicht das EDRFA-Gerät so deutlich niedrigere Nachweisgrenzen als sein Vorgänger. Gleichzeitig wurde ein Präzisionswechsler eingebaut, bei dem sich Proben ohne ein vorheriges Ausschalten der Anregungsquelle austauschen lassen. Dies verhindert Spannungsschwankungen während des Aufheizens der Röntgenröhre, sorgt für eine gleichmäßige Anregung und garantiert eine optimale Reproduzierbarkeit der Messergebnisse.
Auf die Prozesse im Labor zugeschnitten ist der Probenteller der neuen XEPOS-Generation: Er verfügt jetzt über je zwölf Positionen für Proben mit 32 und 40 mm Durchmesser. Labormitarbeiter haben auf diese Weise die Möglichkeit, das XEPOS einmalig zu bestücken und anschließend alle zwölf Proben im unbeaufsichtigten Betrieb analysieren zu lassen. Parallel zur Aktualisierung der Hardware wurde die Software des XEPOS auf den neuesten Stand gebracht: Ab sofort nutzen die EDRFA-Geräte die gleiche übersichtliche und bedienfreundliche Analyse-Software, die auch bei dem im Vorjahr eingeführten SPECTRO iQ zum Einsatz kommt. Zusätzlich wurde das XEPOS um einen intuitiven Method-Wizard ergänzt, der Laboranwender durch eine Schritt-für-Schritt-Anleitung bei der Erstellung eigener Methoden unterstützt.
Typische Anwendungsgebiete für die neue Generation des SPECTRO XEPOS sind Übersichtsanalysen der in der RoHS festgelegten Grenzwerte für die Elektro- und Elektronikindustrie. Darüber hinaus überzeugt das XEPOS in der chemischen und petrochemischen Industrie, bei der Untersuchung von Erzen und Konzentraten in metallfertigenden und metallverarbeitenden Unternehmen oder bei der Analyse von Beschichtungen. Auch der Einsatz in der Umweltanalytik gewinnt zunehmend an Bedeutung: So eignet sich das SPECTRO XEPOS sehr gut für die Untersuchung von Luftfiltern: "Anders als WDRFA-Geräte untersucht das XEPOS die Luftfilter aufgrund der niedrigeren Temperaturen vollständig zerstörungsfrei. Die Filter können so nach der RFA für zusätzliche Probenreihen herangezogen werden", erklärt Dirk Wissmann.
XEPOS plus: Das XEPOS mit dem gewissen Extra Die Ausführung "XEPOS plus", die ab sofort die Modelle SPECTRO X-LAB 2000 ersetzt, ist mit acht - statt der üblichen drei - Anregungsbedingungen ausgestattet. Durch die zusätzlichen Sekundärtargets konnten die Nachweisgrenzen für bestimmte Elemente abermals deutlich gesenkt werden: So konnten Labors mit dem SPECTRO XEPOS bislang Chrom-Gehalte von etwa 10 ppm nachweisen. Beim neuen XEPOS sinkt die Nachweisgrenze auf 5 ppm. Beim Einsatz der Plus-Ausführung mit dem Sekundärtarget Kobalt liegen die Nachweisgrenzen nur noch bei 1 ppm.
Dank dieser besonders niedrigen Nachweisgrenzen eignet sich das XEPOS plus für zahlreiche Umweltapplikationen, die klassischen EDRFA-Geräten bislang verschlossen waren. Typische Anwendungsszenarien sieht Wissmann bei der "Analyse von Schlämmen, Abfällen und Aschen in der Entsorgungsbranche. Aber auch in der Chemie- und der Pharma-Industrie gibt es für die schnellen Übersichtsanalysen mit dem XEPOS viele Einsatzgebiete, etwa wenn es gilt, die Zusammensetzung einer Lösung zu überprüfen und Verunreinigungen auszuschließen."
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