In Verbindung mit dem 56. Internationalen Wissenschaftlichen Kolloquium der Technischen Universität Ilmenau über Innovationen im Maschinenbau (12. - 16.9.) findet vom 31. August bis zum 2. September 2011 das 14. Symposium der „Internationalen Messtechnischen Konföderation“ (IMEKO) statt. Dazu werden 110 Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler aus 15 Ländern der Welt im JenTower in Jena erwartet. Das nationale Organisationskomitee wird von Chairman Professor Gerhard Linß von der TU Ilmenau geleitet.
Auf dem Tagungsprogramm stehen 72 wissenschaftliche Fachbeiträge; die Referenten u.a. aus Japan, Russland, England, USA, Frankreich und Italien. Diskutiert werden die Herausforderungen an die moderne Qualitätsmesstechnik und Industrielle Bildverarbeitung und an die Ausbildung, die sich aus der Nutzung neuer Technologien und Methoden ergeben. Themen sind dabei etwa global verbindliche Bezeichnungen, Definitionen und Standards in Qualitätssicherung, Bildverarbeitung und Messtechnik. Auch die Zusammenarbeit mit anderen wissenschaftlichen Disziplinen von der Biologie, Chemie und Physik über die Medizin bis zu den Sozialwissenschaften, die technologischen Entwicklungen im Hard- und Softwarebereich, die Einführung der aus der graphischen Datenverarbeitung bekannten „erweiterten Realität“ in die Qualitätsmesstechnik, virtuelle Arbeitsplätze und Labore sowie die Miniaturisierung von Sensoren und Systemen sind Gegenstand des Symposiums. Ergänzend angeboten werden daher ein Tutorial und eine Diskussionsrunde zum Internationalen Wörterbuch der Metrologie (VIM), durchgeführt von Wissenschaftlern der ETH Zürich und des Landesamtes für Mess- und Eichwesen Thüringen. Erstmals gibt es eine Vortragsreihe für junge Nachwuchswissenschaftler.
Neben einer Poster-Ausstellung und Besichtigungen des Optischen Museums Jena sowie einer Vorführung im Planetarium werden die Teilnehmer Kulturstätten in Jena und Weimar besuchen.
Unterstützt wird das Symposium neben der TU Ilmenau durch den OptoNet e.V. Jena, die Carl Zeiss AG, das Steinbeis-Transferzentrum Qualitätssicherung und Bildverarbeitung Ilmenau, den Technologie- und Innovationspark Jena mit dem Netzwerk SpectroNet, die VDI/VDE Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik Düsseldorf, die SIOS Messtechnik GmbH Ilmenau und die MRB GmbH Ilmenau.
Pressegespräch am 31. August 2011, 13.00 Uhr, JenTower Jena, 27. Etage.
Die Vertreter/innen der Medien sind herzlich eingeladen.
Auf dem Tagungsprogramm stehen 72 wissenschaftliche Fachbeiträge; die Referenten u.a. aus Japan, Russland, England, USA, Frankreich und Italien. Diskutiert werden die Herausforderungen an die moderne Qualitätsmesstechnik und Industrielle Bildverarbeitung und an die Ausbildung, die sich aus der Nutzung neuer Technologien und Methoden ergeben. Themen sind dabei etwa global verbindliche Bezeichnungen, Definitionen und Standards in Qualitätssicherung, Bildverarbeitung und Messtechnik. Auch die Zusammenarbeit mit anderen wissenschaftlichen Disziplinen von der Biologie, Chemie und Physik über die Medizin bis zu den Sozialwissenschaften, die technologischen Entwicklungen im Hard- und Softwarebereich, die Einführung der aus der graphischen Datenverarbeitung bekannten „erweiterten Realität“ in die Qualitätsmesstechnik, virtuelle Arbeitsplätze und Labore sowie die Miniaturisierung von Sensoren und Systemen sind Gegenstand des Symposiums. Ergänzend angeboten werden daher ein Tutorial und eine Diskussionsrunde zum Internationalen Wörterbuch der Metrologie (VIM), durchgeführt von Wissenschaftlern der ETH Zürich und des Landesamtes für Mess- und Eichwesen Thüringen. Erstmals gibt es eine Vortragsreihe für junge Nachwuchswissenschaftler.
Neben einer Poster-Ausstellung und Besichtigungen des Optischen Museums Jena sowie einer Vorführung im Planetarium werden die Teilnehmer Kulturstätten in Jena und Weimar besuchen.
Unterstützt wird das Symposium neben der TU Ilmenau durch den OptoNet e.V. Jena, die Carl Zeiss AG, das Steinbeis-Transferzentrum Qualitätssicherung und Bildverarbeitung Ilmenau, den Technologie- und Innovationspark Jena mit dem Netzwerk SpectroNet, die VDI/VDE Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik Düsseldorf, die SIOS Messtechnik GmbH Ilmenau und die MRB GmbH Ilmenau.
Pressegespräch am 31. August 2011, 13.00 Uhr, JenTower Jena, 27. Etage.
Die Vertreter/innen der Medien sind herzlich eingeladen.
