Robert Schillinger, Field Application Engineer, vertritt Würth Elektronik eiSos mit seinem Vortrag „Which RF effects need to be considered in the measurement and design of wide-bandgap semiconductor-based power systems?“. Im Zentrum des Vortrags stehen SiC- und GaN-basierte Leistungselektroniksysteme, ein Thema, zu dem bei Würth Elektronik geforscht wird. Robert Schillinger teilt mit den Teilnehmerinnen und Teilnehmern der Oscilloscope Days beispielsweise die neuesten Erkenntnisse zur Befilterung von Gate-Treibern. Weitere Themen der Veranstaltung sind die Auswahl geeigneter Messmittel, Jitter-Analyse, Signalintegrität und EMV-Fehlersuche.
Weitere Informationen unter:
https://www.rohde-schwarz.com/de/knowledge-center/webinars/webinar-oscilloscope-days_255400.html